Къде желаете да търсите

Какво желаете да търсите

Търсене в

Подредба

Каталог "Публикации на автори от ИУ" | Статия

Система за тестиране на големи MOS - памети

Рангел Петков; Петко Петков; Николай Шушков; Александър Козарев

Детайли

Източник
Електропромишленост и приборостроене
Година на издаване
1987
Страници
с. 25 - 26
Пор.№
9

Действия